Atomic force microscope techniques for adhesion measurements
- Schaefer, D.M.
- Gomez, J.
ISSN: 0021-8464
Año de publicación: 2000
Volumen: 74
Número: 1-4
Páginas: 341-359
Tipo: Artículo
ISSN: 0021-8464
Año de publicación: 2000
Volumen: 74
Número: 1-4
Páginas: 341-359
Tipo: Artículo