Atomic force microscope techniques for adhesion measurements
- Schaefer, D.M.
- Gomez, J.
ISSN: 0021-8464
Datum der Publikation: 2000
Ausgabe: 74
Nummer: 1-4
Seiten: 341-359
Art: Artikel
ISSN: 0021-8464
Datum der Publikation: 2000
Ausgabe: 74
Nummer: 1-4
Seiten: 341-359
Art: Artikel