Atomic force microscope techniques for adhesion measurements
- Schaefer, D.M.
- Gomez, J.
ISSN: 0021-8464
Any de publicació: 2000
Volum: 74
Número: 1-4
Pàgines: 341-359
Tipus: Article
ISSN: 0021-8464
Any de publicació: 2000
Volum: 74
Número: 1-4
Pàgines: 341-359
Tipus: Article