Atomic force microscope techniques for adhesion measurements
- Schaefer, D.M.
- Gomez, J.
ISSN: 0021-8464
Ano de publicación: 2000
Volume: 74
Número: 1-4
Páxinas: 341-359
Tipo: Artigo
ISSN: 0021-8464
Ano de publicación: 2000
Volume: 74
Número: 1-4
Páxinas: 341-359
Tipo: Artigo