Atomic force microscope techniques for adhesion measurements
- Schaefer, D.M.
- Gomez, J.
ISSN: 0021-8464
Argitalpen urtea: 2000
Alea: 74
Zenbakia: 1-4
Orrialdeak: 341-359
Mota: Artikulua
Aldizkaria:
Journal of Adhesion