METODO Y DISPOSITIVO DE INSPECCION AUTOMATICA.

    Inventores/as:
  1. CAPUZ RIZO,SALVADOR
  2. Joaquín Bienvenido Ordieres Mere
  3. Francisco Javier Martínez de Pisón Ascacíbar
  4. Eliseo Pablo Vergara González
  5. Fernando Alba Elías
  6. Ana González Marcos
  7. CASTEJON LIMAS,MANUEL
  8. Alpha Verónica Pernía Espinoza
  1. Universidad Politécnica de Valencia
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    Universidad Politécnica de Valencia

    Valencia, España

  2. Universidad de La Rioja
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    Universidad de La Rioja

    Logroño, España

ES
Publicación principal:

ES2247919A1 (01-03-2006)

Otras Publicaciones:

ES2247919B1 (01-05-2007)

Solicitudes:

P200400886 (01-04-2004)

Imagen de la patente

Resumen

El dispositivo de inspección comprende un preceptor (12) de presencia de un recipiente (15) de manera que genera una primera señal (17) que se aplica a una medio (13) de visión el cual toma una imagen del envase (15). Dicha imagen es enviada a un procesador (14) que confronta la imagen tomada contra un patrón predeterminado almacenado en una memoria, el patrón está asociado con características del elemento que se trata de detectar en el envase. El procesador (14) utilizando un algoritmo es capaz de determinar si en la imagen tomada hay características relativas al elemento que se desea asegurar su presencia en el envase (15), esto es, el algoritmo ejecutado por el procesador (14) es capaz de determina la presencia o ausencia del elemento deseado en el recipiente (15).